Verfahren zur Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten

Alexander Frick; Paolo Mercorelli

Verfahren zur Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten

Publikation: Schutzrechte › Schutzrecht

Standard

Verfahren zur Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten. / Frick, Alexander; Mercorelli, Paolo.

Deutsches Patent- und Markenamt. Patent Nr.: DE10225343. Dez. 18, 2003.

Publikation: Schutzrechte › Schutzrecht

Bibtex

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title = "Verfahren zur Erkennung von Ausrei{\ss}ern in einer Folge von digitalisierten Messwerten",

abstract = "Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kontinuierlichen Erkennung von Ausrei{\ss}ern in einer Folge von digitalisierten Messwerten, bei dem zeitliche aufeinander folgende Messwerte mit einer Messwerterfassungseinrichtung erfasst werden, die erfassten Messwerte mit einer Digitalisierungseinrichtung in eine Folge von digitalen Datenpunkten umgewandelt werden, eine Anzahl aufeinander folgender Datenpunkte in einem von einer Speichereinheit einer digitalen Datenverarbeitungseinrichtung bereitgestellten Beurteilungsfenster identifiziert werden, wenigstens eine erste Kenngr{\"o}{\ss}e ermittelt wird, indem in dem Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet werden, das Beurteilungsfenster auf der Folge von Datenpunkten durch Aufnahme wenigstens eines folgenden Datenpunktes verschoben und wenigstens eine zweite Kenngr{\"o}{\ss}e ermittelt wird, indem in dem neu positionierten Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet und die Qualit{\"a}t eines neu in das Beurteilungsfenster aufgenommenen Datenpunktes durch Vergleich der berechneten Kenngr{\"o}{\ss}en beurteilt wird. Erfindungsgem{\"a}{\ss} entspricht die zweite Kenngr{\"o}{\ss}e dem normalisierten, inneren Produkt der in dem Beurteilungsfenster identifizierten Datenpunkte mit einer digitalen Wavelet-Funktion.",

keywords = "Ingenieurwissenschaften",

author = "Alexander Frick and Paolo Mercorelli",

year = "2003",

month = dec,

day = "18",

language = "Deutsch",

publisher = "Deutsches Patent- und Markenamt",

address = "Deutschland",

type = "Patent",

note = "DE10225343; G01D3/02",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Verfahren zur Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten

AU - Frick, Alexander

AU - Mercorelli, Paolo

PY - 2003/12/18

Y1 - 2003/12/18

N2 - Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kontinuierlichen Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten, bei dem zeitliche aufeinander folgende Messwerte mit einer Messwerterfassungseinrichtung erfasst werden, die erfassten Messwerte mit einer Digitalisierungseinrichtung in eine Folge von digitalen Datenpunkten umgewandelt werden, eine Anzahl aufeinander folgender Datenpunkte in einem von einer Speichereinheit einer digitalen Datenverarbeitungseinrichtung bereitgestellten Beurteilungsfenster identifiziert werden, wenigstens eine erste Kenngröße ermittelt wird, indem in dem Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet werden, das Beurteilungsfenster auf der Folge von Datenpunkten durch Aufnahme wenigstens eines folgenden Datenpunktes verschoben und wenigstens eine zweite Kenngröße ermittelt wird, indem in dem neu positionierten Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet und die Qualität eines neu in das Beurteilungsfenster aufgenommenen Datenpunktes durch Vergleich der berechneten Kenngrößen beurteilt wird. Erfindungsgemäß entspricht die zweite Kenngröße dem normalisierten, inneren Produkt der in dem Beurteilungsfenster identifizierten Datenpunkte mit einer digitalen Wavelet-Funktion.

AB - Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur kontinuierlichen Erkennung von Ausreißern in einer Folge von digitalisierten Messwerten, bei dem zeitliche aufeinander folgende Messwerte mit einer Messwerterfassungseinrichtung erfasst werden, die erfassten Messwerte mit einer Digitalisierungseinrichtung in eine Folge von digitalen Datenpunkten umgewandelt werden, eine Anzahl aufeinander folgender Datenpunkte in einem von einer Speichereinheit einer digitalen Datenverarbeitungseinrichtung bereitgestellten Beurteilungsfenster identifiziert werden, wenigstens eine erste Kenngröße ermittelt wird, indem in dem Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet werden, das Beurteilungsfenster auf der Folge von Datenpunkten durch Aufnahme wenigstens eines folgenden Datenpunktes verschoben und wenigstens eine zweite Kenngröße ermittelt wird, indem in dem neu positionierten Beurteilungsfenster identifizierte Datenpunkte ausgewertet und die Qualität eines neu in das Beurteilungsfenster aufgenommenen Datenpunktes durch Vergleich der berechneten Kenngrößen beurteilt wird. Erfindungsgemäß entspricht die zweite Kenngröße dem normalisierten, inneren Produkt der in dem Beurteilungsfenster identifizierten Datenpunkte mit einer digitalen Wavelet-Funktion.

KW - Ingenieurwissenschaften

UR - https://depatisnet.dpma.de/DepatisNet/depatisnet?action=bibdat&docid=DE000010225343A1

M3 - Schutzrecht

M1 - DE10225343

Y2 - 2002/06/06

PB - Deutsches Patent- und Markenamt

ER -